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새로운 글로우 방전/유도결합 플라스마 장치(GD/ICP Interface)에 대한 기초 연구: Part Ⅰ. 기초 연구

The Fundamental Studies of the New Glow Discharge/Inductively Coupled Plasma Interface: Part Ⅰ. Preliminary Studies

대한화학회지 1999년 43권 2호 p.182 ~ 192
이계호, 김형성, 길효식,
소속 상세정보
이계호 ( Lee Gae-Ho ) - Chungnam National University Department of Chemistry
김형성 ( Kim Hyung-Seung ) - Chungnam National University Department of Chemistry
길효식 ( Kil Hyo-Shik ) - Chungnam National University Department of Chemistry

Abstract

글로우 방전(Glow Discharge, GD)과 유도결합플라스마(Inductively Coupled Plasma, ICP)-원자 방출분광법(Atomic Emission Spectrometer, AES)에서 사용되는 새로운 장치를 개발하였다. ICP-AES에서 GDAES로 전환하는 데 불과 15분 정도 소요되기 때문에, 고체 시료 및 액체시료에 포함된 극미량 원소분석을 신속하게 수행할 수 있다. 실험변수 중에서 냉각기체 유속, 시료운반기체 유속, 절단기체 유속, 보조기체 유속, 측정깊이, 이온 통과관 크기, 그리고 rf 전원의 세기 변화에 따른 원자 방출 복사선 변화에 미치는 영향을 조사 연구하였다. Cd(I) 228.8 nm, Mn(II) 257.61 nm, and Fe(II) 259.95 nm에서 측정한 검출한계는 각각 3.86, 1.49, 5.79 ppb로 측정되었으며, 직선성은 1.000으로서 우수하였다.

The new GD/ICP-AES quick change over system has been developed and characterized. Within less than 15 minutes, ICP-AES could be switched to GD-AES and vise a versa. As a result, both solid and liquid samples could be analyzed in a very short period of time by the ICP/GD-AES quick change over system developed in our laboratory. The influences of the experimental variables, such as flow rate of coolant gas, flow rate of auxiliary gas, flow rate of sample carrier gas, sampling depth, orifice size of sampling cone, and rf (radio frequency) power on emission intensity have been presented. The detection limits of Cd(I) 228.8 nm, Mn (II) 257.61 nm, and Fe(II) 259.95 nm were found to be 3.86, 1.49, and 5.79 ppb, respectively. And linealities of the calibration curves were measured to be unity.

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